電子顯微鏡下的原子

清溪咽

在電子顯微鏡下，原子呈現(xiàn)為點(diǎn)狀或亮斑，顯示其在材料中的位置。透射電子顯微鏡（TEM）可以顯示原子的排列和晶體結(jié)構(gòu)，而掃描電子顯微鏡（SEM）則提供表面特征的三維圖像。樣本通常需要處理得很薄，并在真空中觀察，以獲取高分辨率圖像。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)材料科學(xué)和納米技術(shù)至關(guān)重要。

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